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簡(jiǎn)要描述：夏比沖擊試樣缺口測(cè)量方法TOP-IG是我公司根據(jù)GB/229-2007《金屬材料夏比缺口沖擊試驗(yàn)方法》、ASTM E23中夏比沖試樣缺口的要求與廣大用戶的實(shí)際需求而設(shè)計(jì)、開發(fā)的一種于檢查夏比沖擊V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的光學(xué)測(cè)量?jī)x器。
產(chǎn)品型號(hào)：廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時(shí)間：2024-08-14訪 問 量：2105產(chǎn)品分類
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| 品牌 | 其他品牌 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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| 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 石油,交通,冶金,航天,汽車 |
夏比沖擊試樣缺口測(cè)量方法
對(duì)于夏比沖擊V型缺口沖擊試驗(yàn)，由于試樣V型缺口要求嚴(yán)格（GB/T229-2007試樣缺口深2mm±0.075、45°角±2°且試樣缺口底部半徑要求R0.25±0.025mm）（ASTM E23試樣缺口深2mm±0.025、45°角±1°且試樣缺口底部半徑要求R0.25±0.025mm）、缺口對(duì)稱面-試樣縱軸角度（標(biāo)準(zhǔn)要求90°±2°）等，故在整個(gè)試驗(yàn)過程中，試樣的V型缺口加工是否合格成了關(guān)鍵問題，如果試樣缺口的加工質(zhì)量不合格，那么其試驗(yàn)的結(jié)果是不可信的，特別是R0.25mm缺口底部半徑微小變化（其公差只有0.025mm），都會(huì)引起試驗(yàn)結(jié)果的偏差，尤其是在試驗(yàn)的臨界值時(shí)會(huì)引起產(chǎn)品報(bào)廢或合格兩種截然相反的結(jié)果。為保證加工出的夏比沖擊V型缺口合格，其缺口的加工質(zhì)量檢驗(yàn)是一個(gè)重要的質(zhì)量控制手段。用光學(xué)測(cè)量檢查是切實(shí)可行并能保證檢查質(zhì)量的方法。TOP-IG是我公司根據(jù)GB/229-2007《金屬材料夏比缺口沖擊試驗(yàn)方法》、ASTM E23中對(duì)夏比沖擊試樣缺口的要求與廣大用戶的實(shí)際需求而設(shè)計(jì)、開發(fā)的一種于檢查夏比沖擊V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的光學(xué)測(cè)量?jī)x器。
夏比沖擊試樣缺口測(cè)量方法
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